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8寸綜合型探針臺T-200、科研、生產(chǎn)、旗艦型探針臺
8寸綜合型探針臺T-200
支持dc~110GHz射頻芯片測試；也可用于常規(guī)I/V曲線測試；
可用于產(chǎn)線芯片測試，較常規(guī)探針臺測試效率提升5~7倍。
搭載多功能Chuck；支持單芯片，整晶圓等方式測試。
卡盤自鎖功能（獨創(chuàng)）， 扎針時卡盤自行鎖定（可選）
可升級高溫測試功能；高溫：150℃/200℃/300℃（可選）
高清解析，搭載同軸光顯微鏡，倍率8~400X，支持升級；
高度穩(wěn)定性，高效率，多功能，易用性，無損測試等特點完美結(jié)合。
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