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器件探針臺P-150

用于4~6寸晶圓，器件，芯片或MEMS等器件電學(xué)性能測試。

應(yīng)用場景：I/V曲線測試，C/V測試，射頻S參數(shù)測試等；

儀器搭配：數(shù)字源表、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、LCR數(shù)字電橋、網(wǎng)絡(luò)分析儀等。

特點(diǎn)優(yōu)勢：整個探針臺系統(tǒng)占用空間小，操作靈活，簡單易用。能滿足用

戶對產(chǎn)品的苛刻測試要求，是小型實驗室，研發(fā)的不錯選擇！

規(guī)格參數(shù)：